非飽和高壓老化蒸煮爐試半導體測試是為了替代傳統(tǒng)的高溫高濕測試（THB: Temperature-Humidity-Bias） 和高壓蒸煮 測試（PCT: Pressure Cooker Test） 而發(fā)展起來的。THB 測試時間太長（通常 1000 小時）， 而 PCT 的濕度是 100%RH（凝結水），與實際環(huán)境有差異。 HAST 通過提高壓力（通常 2-3 個大氣壓）來允許在超過 100°C 的溫度下仍然保持高濕度（通 常 85%RH），且不產(chǎn)生凝結。這大大加快了水汽向封裝內(nèi)部的滲透速度，從而在短時間內(nèi)（如 96 小時）模擬出長達數(shù)年的潮濕環(huán)境效果。

非飽和高壓老化蒸煮爐試半導體測試

1.采用進口耐高溫電磁閥雙路結構，在大程度上降低了使用故障率。

2.獨立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞。

3.門鎖省力結構，解決原本產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。

4.試驗前排冷空氣;試驗中排冷空氣設計(試驗桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.

5.超長效實驗運轉時間，長時間實驗機臺運轉400小時.

6.水位保護，透過試驗室內(nèi)水位Sensor檢知保護.

7.tank耐壓設計，箱體耐壓力(150℃)2.65kg，符合水壓測試6kg.

8.二段式壓力安全保護裝置，采兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置.

9.安全保護排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕 .

安全保護：

 a.耐高溫密封電磁閥，采用雙回路結構，保證壓力無泄露。

 b.整機配備超壓保護，超溫保護，一鍵泄壓，手動泄壓多重安全保障裝置，

 在大程度上保證用戶的使用和安全。

 c.反壓門鎖裝置，在試驗室內(nèi)部有壓力時，試驗箱門無法打開.